現今 TDR 已經成為一種重要的分析技術應用於 IC 封裝的故障定位,此種技術可以搭配其它的分析技術,如超音波掃瞄顯微術 (Scanning Acoustic Tomography, SAT) 及 X 光顯微術 (X-ray microscopy),進行更精確的故障定位分析。
本入門手冊是有關 TDR 量測和分析的全面介紹。 Share 關於 Tektronix 我們是量測洞察力的公司,致力於效能並盡力發揮各種可能性。Tektronix 設計並製造各種測試和量測解決方案,來突破 …
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