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Welcome to Cyntec - Technology
Semiconductor reliability (
EMMI
, OBIRCH) Adhesion and
thermal
expansion property analysis.
Thermal
conductivity and electrical isolation. Privacy Policy ...
熱點偵測-熱輻射故障定位顯微鏡(
Thermal EMMI
) - 華證科技
利用高靈敏度的InSb相機,在加電壓且利用Lock in的方式來偵測熱輻射的分佈,借此來定位失效位置,也利用熱傳播特性所得到的相位圖(Phase)來估算Z軸的相關位置。
Enhanced Lock-In
Thermal
Emission | ELITE - Thermo Fisher Scientific
Lock-in IR thermography system used to locate line shorts, ESD defects, oxide damage, defective transistors and diodes, and device latch-ups.
產品與服務- 紅外線熱像儀-申泰力精密電子有限公司
...
thermal Emmi
微熱位置尋找分析】. 【IC、電子元件異常發熱檢測】. 【PCB板溫度分佈/ PCB熱源尋找/ PCB冷焊檢測】. 【家電製品異常發熱檢測】. 【塗裝面剝落診斷檢測】.
VLSI漏電區域的定位與解析 - 國立陽明交通大學機構典藏
失效分析;電性分析;漏電;OBIRCH;InGaAs;
Thermal emmi
;ASIC;IP;Fourier Transform. 公開日期: 2017. URI: http://etd.lib.nctu.edu.tw/cdrfb3/record/nctu/#GT070261302
三步驟讓缺陷馬上現形- 電子技術設計
在3D元件通電的狀態,且不破壞樣品的原貌下,利用
Thermal EMMI
故障點熱輻射傳導的相位差,偵測3D封裝的故障點深度(Z軸方向),快速定位故障點XYZ座標 ...
電性故障分析(EFA) - MA-tek 閎康科技
Thermal EMMI
; 鎖定頻率. 1Hz~89Hz ; 廣角鏡範圍. 30cm*30cm ; 鏡片. WA、1X、10X、LSM20X、LSM50X.
一般封裝若實驗後現象為Leakage/Short 第一步「定位」:用熱點測試 ...
一般封裝若實驗後現象為Leakage/Short 第一步「定位」:用熱點測試機台
Thermal EMMI
(InSb),定位故障點的XY座標位置第二步「顯像」:用非破壞式 ...
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